2021 CAC廣州國際先進陶瓷展覽
真理光學由顆粒學界資深專家張福根博士領銜創建。1989年,張博士就在天津大學參與了激光粒度儀的研制工作,并于1993年創立歐美克公司,曾擔任中國顆粒學會副理事長,現任全國顆粒表征與篩分標準化技術委員會副主任。公司的骨干成員都曾是國內外著名公司的核心成員,在顆粒表征領域具有深厚的學養、豐富的經驗和廣闊的視野。
真理光學秉持“科學態度,工匠精神”,注重產品的基礎理論研究、技術創新、質量管控和客戶服務,以“成就高端顆粒儀器”,成為全球性的顆粒表征儀器領導品牌。
真理光學的產品線覆蓋微米到納米,固體顆粒到液體噴霧,能為用戶提供多樣化的顆粒產品和解決方案。
LT3600系列高速智能激光粒度分析儀
LT3600 系列是真理光學基于多年的科研成果開發的一款性能卓越、支持干濕法兩用的新一代超高速智能激光粒度分析系統,其多項技術性能和指標均突破了市場上現有的激光粒度儀的局限性和瓶頸,成為當今粒度儀市場具有里程碑意義的產品。
LT3600 系列加持了偏振濾波技術,衍射愛里斑反常變化(ACAD)的補償修正技術等多項創新和專利技術LT3600 系列擁有獨特的光路配置,超大連續的物理測量角度,無需更換透鏡,無需使用標準樣校準,量程范圍達到0.015 微米至 3600 微米,測量速度高達 10000 次/秒,兼具極高的靈敏度和重現性,對所有類型的樣品均可獲得準確可靠的結果。LT3600 系列粒度儀被廣泛用于電池材料,制藥,涂料,磨料,陶瓷,非金屬礦,粉末冶金,化工,地質,水文等行業的顆粒粒度表征分析。
優異性能:
1,完全符合 ISO13320 衍射法測量技術標準
2,獨特的光路配置,超大連續的物理測量角度,無檢測盲區
3,改進型反演算法,用戶無需選擇“分析模式”,兼顧極高的分辨率和穩定性
4,無需更換透鏡,無需使用標準樣校準,量程范圍達到 0.015至 3600 微米
5,實時測量速率高達 10000Hz,不漏檢任何形狀和分布顆粒的衍射信息
6,采用自動溫度恒定技術的超高穩定固體激光光源系統,徹底克服了氦氖氣體
激光器預熱時間長,使用壽命短的缺點
7,采用偏振空間濾波技術,徹底摒棄導致機械和熱穩定性差的針孔濾波器
LT2200系列激光粒度分析儀
LT2200加持了真理光學首創的衍射愛里斑反常變化(ACAD)的補償修正技術的使用,使用戶無需選擇分析模式,即可在全粒徑范圍獲得準確可靠的粒度結果;LT2200系列粒度儀還采用了真理光學獨創的高速全息信號處理技術,測量速度最高可達每秒20000次,確保不漏檢任何粒徑和形狀的顆粒; LT2200系列粒度儀的粒徑范圍為0.02μm-2200μm, 適用于制藥,電池材料,地質,水文,化工和磨料等諸多行業的顆粒粒度分析。L2200系列粒度儀被廣泛用于電池材料,制藥,涂料,磨料,陶瓷,非金屬礦,粉末冶金,化工,地質,水文等行業的顆粒粒度表征分析。
優異性能:
1,完全符合 ISO13320 衍射法測量技術標準
2,獨特的光路配置,超大連續的物理測量角度
3,改進型反演算法,用戶無需選擇“分析模式”,兼顧極高的分辨率和穩定性
4,無需更換透鏡,無需使用標準樣校準,量程范圍達到0.02微米至2200微米
5,采用全息信號同步處理技術,實時測量速度最高達每秒20000次,不漏檢任何形狀和分布顆粒的衍射信息
6,采用自動溫度恒定技術的超高穩定固體激光光源系統,徹底克服了氦氖氣體激光器預熱時間長,使用壽命短的缺點
7,采用偏振空間濾波技術,徹底摒棄導致機械和熱穩定性差的針孔濾波器
SprayLink 高速噴霧粒度分析儀
真理光學技術團隊具有超過二十年粒度表征及應用開發的經驗,曾研發出中國第一臺商用激光粒度分析儀,多年的科學研究和激光衍射技術創新成果,為測量和分析高速噴霧的粒度奠定了基礎。噴霧顆粒的大小及其控制決定了許多產品的最終質量,如吸入給藥過程中的藥物輸送,燃油噴霧,氣溶膠,火箭發射時燃料的燃燒效率評估,能源化工行業及噴嘴研究等諸多應用。由于噴霧顆粒的高速運動,粒徑范圍寬及霧場的不規則,要求噴霧粒度分析系統具有高的適應性和高速衍射信號的處理能力。Spraylink超高速實時噴霧粒度分析儀專為應對這些挑戰而設計,以實現對噴霧粒度進行準確的分析。Spraylink系統使用最優化的高靈敏度檢測和全息信號處理系統,并融合高濃度補償技術,極大減少了在高濃度噴霧顆粒粒度的測量時多重衍射對結果的影響,可確保在高達90%的遮光度下準確測量霧滴顆粒的粒度分布。且無需更換透鏡,粒徑范圍高達0.1μm到2080μm。
優異性能:
1,10KHz的數據采集速率,能夠完成每秒10000次噴霧粒徑測量,從而動態捕捉0.1毫秒時間間隔的顆粒粒度分布。
2,獨特的透鏡設計和光路系統優化,寬廣的噴霧霧場測量范圍
3,無需更換透鏡,即可覆蓋0.1μm– 2080μm的動態測量范圍
4,全自動智能光學對中
5,獨特的鏡頭吹掃保護裝置用戶自定義的光學導軌配置最新高濃度補償分析技術
6,靈活的多觸發選項,實現不同應用的測量同步
7,全金屬外殼和支撐配合高精度光學導軌設計,兼顧極高的穩定性和靈活性
Nanolink S900 納米粒度及 Zeta 電位儀
Nanolink S900 是基于多年的科研成果開發的新一代納米粒度分析系統,
被廣泛應用于有機及無機顆粒、乳液、高分子聚合物、表面活性劑、膠素、病毒抗體、蛋白質等樣品的顆粒表征。SZ900 除了具備顆粒表征功能外,還能測量膠體的 ZETA 電位。
優異性能:
1,經典90°動態光散射技術
2,粒徑范圍:0.6nm-10μm
3,新一代高速數字相關器,最小采樣時間25ns,動態范圍大于 1011
4,集成光纖技術的軍品級PMT 檢測單元(APD 可選)
5,532nm 50mW 大功率固體激光器,能量輸出自動調節
6,溫控范圍0℃-90℃,精度±0.1℃
7,冷凝控制和干燥氣體吹掃技術
珠海真理光學儀器有限公司
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